peritec自動測量電子設備產(chǎn)生的電場磁場的噪聲分布的EMI測試儀EMV-100

更新時間：2024-04-22

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peritec EMI測試儀可高精度地自動測量電子設備產(chǎn)生的電場磁場的噪聲分布。
高精度可動工作臺即使PCB或IC等有復雜的凹凸，也能自動跟蹤其形狀，進行高靈敏度測量。
測量的數(shù)據(jù)通過豐富的3D圖形可視化。

EMIテスタ外観
左: EMV-100右: EMV-200

■自動拐杖突機構
即使被測量物有復雜的凹凸，磁場探針也會通過自動仿形功能自動跟蹤極近距離，因此可以進行高靈敏度、高分辨率的測量。

自動杖突機構

■圖形顯示
測量的數(shù)據(jù)通過豐富的3D圖形可視化。

グラフィック表示

項目			EMV-100	EMV-150	EMV-200
可動桌子	動作范圍	X / Y軸	170毫米	370毫米	300毫米
		z軸	100毫米		230毫米
		θ軸	- 100 to + 230°度。		±360°度。
	位置精度	X / Y軸	±0.05 mm
		z軸	±0.05 mm
		θ軸	±1°度。
	外形尺寸( W×D×H )		387 x 405 x 735毫米	617 x 605 x 735毫米	565乘680乘1003毫米
	重量		20公斤	40公斤	97公斤
綜合控制控制器	控制用PC		微軟windows 7 (支持Microsoft Windows 10 )
	軟件		控制程序EMVm5	控制程序EMVL5	控制程序EMV5
	軟件選項		LabVIEW API
電源	交流電源輸入		AC 100-230V、50Hz / 60Hz
	耗電量		0.5 kVA max		1.0 kVA max
選項	測量儀器		頻譜分析儀(支持各公司)
	天線		電場天線W07E 磁場天線W07 其他
	前置放大器		100MHz~6GHz，NF=2.5dB，GAIN=36dB 其他
	屏蔽箱		有與測試儀型號對應的專用屏蔽箱。

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