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日本takano 晶圓表面檢測(cè)設(shè)備WM系列的產(chǎn)品介紹

更新時(shí)間：2024-08-08      瀏覽次數(shù)：139

WM系列規(guī)格

01.jpg


001.png




1.png

無(wú)圖案300mm晶圓表面檢測(cè)系統(tǒng)

WM-10R是300mm晶圓的標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)

是48nm的高靈敏度檢測(cè)系統(tǒng)。

WM - 10R is a standard model of 300 mm wafer.It is a high sensitivity inspection system of 48 nm.





002.png



2.png200mm以下無(wú)圖案晶圓表面檢測(cè)系統(tǒng)


WM-7系列是200毫米晶圓尺寸以下最的合理的高性能型號(hào)。

WM - 7 series is the most reasonable high - performance model below 200 mm wafer size.






1. 獨(dú)的創(chuàng)高靈敏度光學(xué)系統(tǒng)

  • WM-10R 有 2 軸粒子入射角。

  • WM 系列有 2 個(gè)寬數(shù)值孔徑鏡頭，用于高靈敏度檢測(cè)。

2. 高分辨率 XY 位置螺旋掃描

  • WM系列是帶轉(zhuǎn)速控制的螺旋掃描方式。

  • XY-數(shù)據(jù)發(fā)送到 EB 審查設(shè)備，然后可以通過(guò)輕松對(duì)齊進(jìn)行審查。


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