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美國microtrac粒徑分析儀S3500是第一個使用三個精確放置的紅色激光二極管來精確描述顆粒的粒度分析儀,專的利的三激光系統(tǒng)為各種應用提供了精確,可靠和可重復的粒度分析,利用已證明的理論的Mie補償球形粒子和專的利原理的改進的Mie計算非球形粒子。S3500測量的粒度從0.02到2800µm
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美國microtrac粒徑分析儀S3500
是第一個使用三個精確放置的紅色激光二極管來精確描述顆粒的粒度分析儀,專的利的三激光系統(tǒng)為各種應用提供了精確,可靠和可重復的粒度分析,利用已證明的理論的Mie補償球形粒子和專的利原理的改進的Mie計算非球形粒子。S3500測量的粒度從0.02到2800µm
性能指標
1.三激光,紅色,多探測器,多角度光學系統(tǒng)
2.對非球形粒子采用米氏補償和修正米氏計算的算法
3.測量范圍從0.02到2800µm
4.干濕法測量
5.封閉的光路確保光學元件的完的全保護,很少或沒6.6有操作員干預
美國microtrac粒徑分析儀S3500
是第一個使用三個精確放置的紅色激光二極管來精確描述顆粒的粒度分析儀,專的利的三激光系統(tǒng)為各種應用提供了精確,可靠和可重復的粒度分析,利用已證明的理論的Mie補償球形粒子和專的利原理的改進的Mie計算非球形粒子。S3500測量的粒度從0.02到2800µm
性能指標
1.三激光,紅色,多探測器,多角度光學系統(tǒng)
2.對非球形粒子采用米氏補償和修正米氏計算的算法
3.測量范圍從0.02到2800µm
4.干濕法測量
5.封閉的光路確保光學元件的完的全保護,很少或沒6.6有操作員干預